关于处理器的外接无源晶振的负载电容和匹配电容。图1是给处理器提供工作时钟的常见振荡电路，晶振的两个引脚与处理器内部的反相器相连接，在处理器的外围，连接了以下的器件：C1，C2为匹配电容串联电阻R1用于降低激励幅度，避免晶振过驱动，加入之后，会降低振荡的幅度，如果振荡幅度在合适范围，也可以不加，并联电阻R2的主要作用为：1、配合IC内部电路组成负反馈、移相，使放大器工作在线性区2、限流防止谐振器被过驱3、并联降低谐振阻抗，使谐振器易启动4、电阻取值影响波形的脉宽。

实际上是做产品的可靠性试验。分正常使用环境条件、极限使用环境条件，样品在工作状态下的失效率。成本和时间是矛盾的，只好寻求一个平衡点，时间短试验样品的量就大，成本就高；试验样品少，试验时间就长。也可以按预期寿命时间做，达到预期寿命时间时失效率小于设计寿命就合格。

如何判断晶振是否起振：1.示波器检测。这个会用示波器的就应该都知道了.就不详说了。（之前也有碰到说示波器检测不真，但单体晶振测试就起振的。这样的情况是可能晶振电阻比较大，或者是晶振负载与两端的电容值不匹配。）2.万用表检测。可以使用万用表检测晶振两端的电压是否是芯片工作电压的一半。如果是一半那就表示起振了。另外用镊子碰晶振的另一只脚，电压有明显变化也表示晶振是起振的。

EPSON晶振中国一级代理商扬兴科技：在此教大家几招:1、准备材料：455khz陶瓷晶振、废弃圆珠笔头、双列8脚IC、专用遥控器等2、拆开遥控器后盖,焊下电路板上455kHz陶瓷晶振.用一只双列8脚IC座做测试夹,仅用单列,1~2、3~4脚焊在一起焊在电路板上做晶振测试夹,目的是方便插接不同尺寸的晶振.3、用2个废圆珠笔铜头做频率计测试接线柱与晶振测试夹焊在一起,

利用遥控器上的3V电源给另加的电路板供电,另加的小块电路板连5条线(2条电源2条测试)到遥控器上,另一条线由R2接遥控器IC输出脚(即遥控器上NPN三极管B极),被测晶振插在测试夹插座上,按遥控器按钮,发光二极管就会闪亮了.备注说明：如接上数字频率计就可以准确测量遥控器晶振频率了.其他遥控器对准红外光敏二极管按钮,发光二极管会闪亮。